Rezultati pretraživanja

Na upit UncontrolledTerms_swish=(X-Ray spektrometrija ) pronađeno je 7 rezultata ...

Sortiraj prema: autoru, naslovu, autoru i naslovu, naslovu i autoru

1
Naslov:Sv.IIC : Electrical Methods,Physical Separation Methods
Impresum:1971.
Materijalni opisi:420 str. : ilustr.
Tema:Analitička kemija * Kemijska analiza * Električne metode * Separacija * Papirna kromatografija * Tankoslojna kromatografija * Radiokemijske metode * NMR-metode * X-Ray spektrometrija
ID:810906002
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Metalurški fakultet Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/knjmets.htm
2
Autor:Willard, Hobart H.
Naslov:Instrumental Methods of Analysis / Hobart H.Willard,Lynne L.Merritt,John A.Dean
Izdanje:3.izd.
Impresum:Princeton : D.Van Nostrand Company,Inc. , 1958.
Materijalni opisi:626 str. : ilustr. ; 24 cm
Tema:Analitička kemija * Instrumentalna analiza * Polarimetrija * Kolorimetrija * Fluorescencija * Turbidimetrija * Nefelometrija * Spektrofotometrija * Raman spektrografija * Plamena fotometrija * X-Ray metode * Masena spektrometrija * Refraktometrija * Plinska kromatografija * Radioaktivnost * NMR spektroskopija * Potenciometrija * Kulometrija * Polarografija * Amperometrija * Titrimetrija
Signatura:543
ID:210831001
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Metalurški fakultet Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/knjmets.htm
3
Autor:Harley, John H.
Naslov:Instrumental Analysis / John H.Harley,Stephen E.Wiberley
Impresum:New York : John Wiley & Sons,Inc. , 1954.
Materijalni opisi:440 str. : ilustr. ; 24 cm
Tema:Analitička kemija * Instrumentalna analiza * Spektri * Absorpcija * Vidljivi spektar * Ultraljubičasti spektar * Infracrveni spektar * Raman spektroskopija * Fluorometrijske metode * Emisijska spektroskopija * Kvalitativna spektroskopija * Kvantitativna spekrografija * Plamena fotometrija * Kolorimetrija * Elektrodni potencijal * pH-mjerenja * Potenciometrijske titracije * Vodljivost * Polarografija * Amperometrijske titracije * Visoko-frekventne metode * X-ray metode * Masena spektrometrija * Nuklearna radijacija
Signatura:543
ID:800322007
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Metalurški fakultet Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/knjmets.htm
4
ISBN:0-444-40678-6
Naslov:Electrical methods Physical separation methods / Edited by Cecil L. Wilson, David W. Wilson
Impresum:Amsterdam, <etc.> : Elsevier Publishing Company , 1971
Materijalni opisi:xvi, 420 str. : ilustr. ; 23 cm
Napomena:Bibliografija iza svakog poglavlja
Tema:analitička kemija * električne metode analize * fizikalne separacijske metode * kromatografija na papiru * tankoslojna kromatografija * radiokemijske metode analize * nuklearna magnetska rezonancija * x-ray spektrometrija * priručnici
Signatura:ENG Vol.II: C: 1990
Lokacija:Stručna knjižnica Željezare Sisak
ID:720318010
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Željezara Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/
5
ISBN:0-521-48350-6
Autor:Reed, S.J.B.
Naslov:Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology / S.J.B. Reed
Impresum:Cambridge : University Press , 1996
Materijalni opisi:XII,201 str. : ilustr. dijelom i u bojama ; 24 cm
Napomena:Bibliografija: str.188-198. - Kazalo.
Tema:MB 3172 * elektronska mikrosonda-geologija * spektrometrija * skeniranje-elektronsko-geologija * EMPA-electron microprobe analysis * SEM-scanning electron microscopy * rentgentska spektrometrija (X-ray spectrometry)
Signatura:MB 3172
ID:981022202
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Rudarsko geološko naftni fakultet Zagreb, http://szitehnika.cc.fer.hr/knjirgn.htm
6
Autor:Delahay, Paul
Naslov:Instrumental Analysis / Paul Delahay
Impresum:New York : The Macmillan Company , 1963.
Materijalni opisi:384 str. : ilustr. ; 24 cm
Tema:Analitička kemija * Instrumentalna analiza * Elektrodni potencijal * Potenciometrija * Polarografija * Voltametrija * Amperometrijske titracije * Voltametrijske titracije * Kulometrija * Konduktometrija * Visokofrekventne metode * Emisijska spektroskopija * Absorpcijska spektrometrija * Filter fotometrija * Fluorometrija * Turbidimetrija * Nefelometrija * Raman spektroskopija * X-Ray metode * Masena spektrometrija * Nuklearna radijacija
Signatura:543
ID:800301002
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Metalurški fakultet Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/knjmets.htm
7
Naslov:X-ray analysis papers / Edited by William Parrish
Izdanje:25 selected reprints
Impresum:Eindhoven : Centrex publishing , 1965
Materijalni opisi:xi, 312 str. : ilustr. ; 28 cm
Napomena:Bibliografija iza svakog poglavlja
Tema:analize x-ray * x-ray praškasta difraktometrija * x-ray spektrometrija * silikonska refleksija * računanje detekcije * stručne knjige
Signatura:ENG 3170
Lokacija:Stručna knjižnica Željezare Sisak
ID:800829001
Format:Tiskana građa
Knjižnica:Željezara Sisak, http://szitehnika.cc.fer.hr/
1